電路板微型探針臺(tái)和晶圓探針 鄭科探微型探針顯微鏡冷熱臺(tái) 高溫400℃ 低溫-190℃ 4個(gè)可移動(dòng)探針 測(cè)試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測(cè)試 可擴(kuò)展凹視鏡 用于拉曼光譜測(cè)試 探針腔體可達(dá)真空0.1pa（機(jī)械泵） 1E-3Pa（分子泵）可用于光學(xué) 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學(xué)測(cè)試

鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺(tái) 測(cè)試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測(cè)試 可擴(kuò)展凹視鏡 用于拉曼光譜測(cè)試 探針腔體可達(dá)真空0.1pa（機(jī)械泵） 1E-3Pa（分子泵）可用于光學(xué) 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學(xué)測(cè)試

氣體傳感器測(cè)試腔不銹鋼真空探針臺(tái) 探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本

低溫測(cè)試探針臺(tái)主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ30，臺(tái)面最高可升溫到最高400℃。臺(tái)面四周裝有微型3軸可移動(dòng)鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測(cè)試。該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)＜5Pa分子泵可達(dá)＜-3Pa。真空信號(hào)連接處使用高級(jí)真空電極信號(hào)接頭，保證氣密性及抗干擾性

KT-Z1604T型號(hào)真空探針臺(tái) 鄭科探廠家應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。